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标题: 可靠度测试后发现package有漏电 [打印本页]

作者: 肥彬BF 时间: 2020-3-31 20:28
标题: 可靠度测试后发现package有漏电

碰到一個500v LDMOS chips 可靠度测试后发现有漏电, 但是如果如果开盖就没事
,

代工有人说是package 材料 .
开盖 DIE 没漏电

作者: Samuel 时间: 2020-3-31 20:28
可靠度测试是哪项测试? 有很多Failure analysis可以检测package有漏电

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