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标题: 检测失效闡发芯片 Burn-in Socket、Test Socket [打印本页]

作者: 活在你心中 时间: 2020-3-31 20:34
标题: 检测失效闡发芯片 Burn-in Socket、Test Socket
文章简介：测试座，老化座Burn-inSocket、TestSocket适用于BG

测试座，老化座Burn-in Socket、Test Socket适用于BGA,QFP,QFN.LGA.CSP,DIP.SOP,等一系列封装测試.主要用于芯片的不良产品的检测（开短路，电流等），兼容性检测，及芯片烧录资料，芯片老化，失效分析的测试产品制作。

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