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可靠度测试后发现package有漏电

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楼主
发表于 2020-3-31 20:28:49 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

碰到一個500v LDMOS chips 可靠度测试后发现有漏电, 但是如果如果开盖就没事
,

代工有人说是package 材料 .
开盖 DIE 没漏电  










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沙发
发表于 2020-3-31 20:28:56 | 只看该作者
可靠度测试是哪项测试? 有很多Failure analysis可以检测package有漏电
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