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求教微電子工艺中Metal密度要求原因,metal濺射、刻蚀后如何保证硅片的平整度。

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发表于 2020-3-31 20:33:01 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
    文章简介:工艺小白,请教:在rule里面金属密度有范围要求,一般为硅片平整度要求,



工艺小白,请教:在rule里面金属密度有范围要求,一般为硅片平整度要求,工艺越先进要求越高,僅仅为平整度要求吗,而每次经过metal溅射、刻蚀工艺后, 氧化层介质层生长后,如何进行平整度的工艺调整,是叫CMP吗,如果不是能不能解釋下如何进行的,非常感谢。

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沙发
发表于 2020-3-31 20:33:07 | 只看该作者
CMP是全局平坦化工艺,精度很高,但是就是代价比较高,需要对工艺进行摸索,价格较高
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